Описание продукта
Камера быстрого изменения температуры для 15°C/минуту 20°C/минуту 25°C/минуту
Приложения в области электроники
Температурные камеры имеют важное значение в электронике для тестирования интегральных схем (СС), платок схем (ПКБ), полупроводников, преобразователей, источников питания и приводов.Эти системы оценивают устойчивость к экстремальным температурам, влажность, тепловой шок и колебания напряжения, повторяя различные эксплуатационные среды для оценки долговечности и надежности продукта.
В быстро развивающемся секторе электроники эти камеры предоставляют важные данные о долговечности, режимах отказа и ограничениях конструкции, поддерживая быстрые циклы разработки для бытовой электроники,промышленный контроль, компьютерное оборудование и телекоммуникационное оборудование.
Медицинское применение
Испытание медицинских устройств требует соблюдения строгих правил, вытекающих из таких агентств, как FDA, касающихся химической стабильности, стерильности, транспортировки и срока годности.Такие стандарты, как IEC 60601 и ISO 13485 требуют проверки устойчивости оборудования к экстремальным условиям, включая защиту от жары, холода, влажности и загрязнения.
Критические применения включают испытание дыхательных устройств, диагностических инструментов, имплантатов и оборудования экстренной помощи,обеспечение постоянной производительности в различных условиях и установление надлежащих условий хранения посредством исследований срока годности.
Военное применение
Военный и оборонный сектор требуют строгих экологических требований к оборудованию, тестирование производительности в экстремальных условиях от арктического холода до жары пустыни, включая воздействие соляного спрея,песок, пыль, удар и вибрации.
Соответствие спецификациям MIL-STD гарантирует, что аэрокосмическое, автомобильное и коммуникационное оборудование может выдерживать критические условия.боеприпасы, навигационные устройства и прочные компьютеры.
Выдающееся распределение температуры создает равномерное напряжение с оптимальным потоком воздуха и распределением скорости, рассчитанным по моделированию, чтобы минимизировать вариации размещения образца.
Усовершенствованный контроль температуры образца имеет высокоскоростную технологию контроллера, увеличенную емкость охлаждения и равномерное распределение скорости воздуха.
Соответствует стандарту JEDEC (JESD22-A104F) для оценки пакетов полупроводников и соединительных соединений при температуре 15 °C/мин между -40 и +125 °C.
Методы двойного контроля поддерживают как контроль температуры образца (15°C/мин.), так и контроль температуры воздуха для универсальных испытаний.
Ваше сообщение должно содержать от 20 до 3000 символов!
