Descrição do produto
Câmara de mudança rápida de temperatura para 15°C/minuto 20°C/minuto 25°C/minuto
Aplicações eletrónicas
As câmaras de temperatura são essenciais na indústria eletrônica para testar circuitos integrados (ICs), placas de circuito (PCBs), semicondutores, transdutores, fontes de alimentação e drives.Estes sistemas avaliam a resistência a temperaturas extremas, humidade, choque térmico e flutuações de tensão, replicando diversos ambientes operacionais para avaliar a longevidade e a confiabilidade do produto.
No sector da electrónica em ritmo acelerado, estas câmaras fornecem dados cruciais sobre durabilidade, modos de falha e limitações de concepção, apoiando ciclos de desenvolvimento rápidos para a electrónica de consumo,Controles industriais, hardware de computação e equipamento de telecomunicações.
Aplicações médicas
Os testes de dispositivos médicos exigem conformidade com regulamentos rigorosos de agências como a FDA, abordando a estabilidade química, a esterilidade, o transporte e a vida útil.Normas como a IEC 60601 e a ISO 13485 exigem a validação da resiliência dos equipamentos a condições extremas, incluindo protecção contra o calor, o frio, a humidade e a contaminação.
Aplicações críticas incluem testes de dispositivos respiratórios, ferramentas de diagnóstico, implantes e equipamentos de assistência de emergência,Assegurar um desempenho consistente em ambientes variados e estabelecer condições de armazenagem adequadas através de estudos de validade.
Aplicações militares
Os setores militar e de defesa exigem qualificações ambientais rigorosas para os equipamentos, testando o desempenho em condições extremas do frio ártico ao calor do deserto, incluindo exposição a sal,areia, poeira, choque e vibração.
A conformidade com as especificações MIL-STD garante que os equipamentos aeroespaciais, automotivos e de comunicação possam suportar condições críticas de missão.munições, dispositivos de navegação e computadores robustos.
A distribuição de temperatura excepcional cria um estresse uniforme, com o fluxo de ar ideal e a distribuição de velocidade calculada por simulação para minimizar as variações de colocação da amostra.
O controle avançado da temperatura da amostra possui tecnologia de controlador de alta velocidade, maior capacidade de refrigeração e distribuição uniforme da velocidade do ar.
Conforme a norma JEDEC (JESD22-A104F) para avaliações de pacotes de semicondutores e junções de solda a 15 °C/minuto entre -40 e +125 °C.
Os métodos de controlo duplo suportam tanto o controlo da temperatura da amostra (15°C/minuto) como o controlo da temperatura do ar para aplicações de ensaio versáteis.
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