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Detalhes dos produtos

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Câmara de Teste de Estresse Ambiental
Created with Pixso. Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto

Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto

Nome da marca: Jianqiao
Número do modelo: JQESS-100
MOQ: 1
Prazo de entrega: 5~ semanas
Termos de pagamento: , T/t
Informações Detalhadas
Lugar de origem:
CHINA
Certificação:
CE
Sistema de aquecimento:
Aquecedor tubular de aço inoxidável
Sistema de resfriamento:
Refrigeração mecânica
Garantia:
1 ano
Compressor de refrigeração:
Compressor hermético (Tecumseh)
Uniformidade da umidade:
± 2,0 % RH
Fã:
Soprador centrífugo
Umidificador:
Umidificador a vapor
Faixa de controle de umidade:
20,0%RH ~ 95,0%RH
Evaporador:
Fin - e - trocador de calor de tubo
Tamanho da câmara:
1000 mm x 1000 mm x 1000mm
Controle de umidade:
10% ~ 95% RH
Detalhes da embalagem:
Estojo de madeira
Habilidade da fonte:
300
Destacar:

Câmara rápida do teste da mudança de temperatura

,

Câmara de Teste de Mudança de Temperatura de 15℃ por Minuto

,

Câmara de Teste de Mudança de Temperatura de 20℃ por Minuto

Descrição do produto
Câmara de mudança rápida de temperatura para 15°C/minuto 20°C/minuto 25°C/minuto
Especificações do produto
Atributo Valor
Sistema de aquecimento Aquecedor tubular de aço inoxidável
Sistema de arrefecimento Refrigeradores mecânicos
Garantia 1 ano
Compressor de refrigeração Compressor hermético (Tecumseh)
Uniformidade da humidade ± 2,0%RH
Ventilador Sopradores centrífugos
Humidificador Humidificador de vapor
Faixa de controlo da umidade 200,0%RH ∼95,0%RH
Evaporador Trocador de calor de barbatana e tubo
Tamanho da câmara 1000 mm x 1000 mm x 1000 mm
Controle da umidade 10% ~ 95% RH
Descrição do produto
Câmara de mudança rápida de temperatura para 15°C/minuto 20°C/minuto 25°C/minuto
Aplicações eletrónicas

As câmaras de temperatura são essenciais na indústria eletrônica para testar circuitos integrados (ICs), placas de circuito (PCBs), semicondutores, transdutores, fontes de alimentação e drives.Estes sistemas avaliam a resistência a temperaturas extremas, humidade, choque térmico e flutuações de tensão, replicando diversos ambientes operacionais para avaliar a longevidade e a confiabilidade do produto.

No sector da electrónica em ritmo acelerado, estas câmaras fornecem dados cruciais sobre durabilidade, modos de falha e limitações de concepção, apoiando ciclos de desenvolvimento rápidos para a electrónica de consumo,Controles industriais, hardware de computação e equipamento de telecomunicações.

Aplicações médicas

Os testes de dispositivos médicos exigem conformidade com regulamentos rigorosos de agências como a FDA, abordando a estabilidade química, a esterilidade, o transporte e a vida útil.Normas como a IEC 60601 e a ISO 13485 exigem a validação da resiliência dos equipamentos a condições extremas, incluindo protecção contra o calor, o frio, a humidade e a contaminação.

Aplicações críticas incluem testes de dispositivos respiratórios, ferramentas de diagnóstico, implantes e equipamentos de assistência de emergência,Assegurar um desempenho consistente em ambientes variados e estabelecer condições de armazenagem adequadas através de estudos de validade.

Aplicações militares

Os setores militar e de defesa exigem qualificações ambientais rigorosas para os equipamentos, testando o desempenho em condições extremas do frio ártico ao calor do deserto, incluindo exposição a sal,areia, poeira, choque e vibração.

A conformidade com as especificações MIL-STD garante que os equipamentos aeroespaciais, automotivos e de comunicação possam suportar condições críticas de missão.munições, dispositivos de navegação e computadores robustos.

A distribuição de temperatura excepcional cria um estresse uniforme, com o fluxo de ar ideal e a distribuição de velocidade calculada por simulação para minimizar as variações de colocação da amostra.
O controle avançado da temperatura da amostra possui tecnologia de controlador de alta velocidade, maior capacidade de refrigeração e distribuição uniforme da velocidade do ar.
Conforme a norma JEDEC (JESD22-A104F) para avaliações de pacotes de semicondutores e junções de solda a 15 °C/minuto entre -40 e +125 °C.
Os métodos de controlo duplo suportam tanto o controlo da temperatura da amostra (15°C/minuto) como o controlo da temperatura do ar para aplicações de ensaio versáteis.
Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto 0 Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto 1 Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto 2 Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto 3 Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto 4 Câmara de Teste de Mudança Rápida de Temperatura Para 15℃ por Minuto / 20℃ por Minuto / 25℃ por Minuto 5 15℃/minute temperature change demonstration