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品質 環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空宇宙部品用 MIL-STD-810 工場
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環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空宇宙部品用 MIL-STD-810

ブランド名: Jianqiao
モデル番号: JQESS-100
原産地: 中国
認定: CE
最低注文数量: 1
供給能力: 300

製品詳細


暖房システム: ステンレス鋼の管状ヒーター 冷却システム: 機械的な冷蔵
保証: 1年 冷凍コンプレッサー: ハーメチックコンプレッサー(Tecumseh)
湿度均一性: ±2.0%RH ファン: 遠心ブロワー
加湿器: 蒸気加湿器 湿度制御範囲: 20.0%rh~95.0%rh
蒸発器: FIN-および - チューブ熱交換器 チャンバーサイズ: 1000mm x 1000mm x 1000mm
湿度制御: 10%〜95%RH
ハイライト

環境ストレススクリーニング試験チャンバー MIL-STD-810

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急速温度変化試験チャンバー 航空宇宙

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部品用環境ストレススクリーニングチャンバー

製品説明

環境ストレススクリーニング試験チャンバー
航空部品用急速温度変化試験チャンバー MIL-STD-810
製品概要
急速温度変化試験は、熱衝撃試験の故障再現性を向上させるために設計された特殊な熱サイクル方法です。電子デバイスや回路基板が信頼性の課題に直面する中、この試験方法は、高度な半導体集積による高い動作温度、BGAやCSPなどの進化するデバイス実装技術、および鉛フリーはんだへの移行など、重要な問題に対処します。
急速温度変化試験と熱衝撃試験の主な違いは、1分あたり15℃以下の制御された温度変化率です。この精度により、非常に再現性の高い試験結果が得られ、JEDEC(JESD 22-A104F)などの規格への適合性試験に最適です。
主な機能と特性
加速エージング
現実世界の熱ストレスを大幅に短い時間枠でシミュレートします
急速ランプ
高速な加熱および冷却速度を実現(5℃/分~25℃/分またはカスタマイズ可能)
環境シミュレーション
包括的な製品設計試験、改善検証、およびJEDECなどの規格への適合性検証のために、動作の極限状態を模倣します
高度なコンポーネント
洗練された加熱/冷却システム、精密な空気循環、PLC/タッチスクリーン制御システムを備えています
業界での応用
電子機器、航空宇宙、自動車、新エネルギー、防衛分野において、熱ストレス欠陥を特定するために不可欠です
動作プロセス
  1. セットアップ: 断熱チャンバー内に試験サンプル(回路基板、デバイス、コンポーネント)を配置します
  2. プログラミング: 直感的なコントローラーインターフェースを介して、温度範囲、ランプ速度、保持時間などの試験パラメータを設定します
  3. 試験サイクル: チャンバーはサンプルを急速に加熱または冷却し、極端な条件(例:+125℃~-40℃)の間をサイクルします
  4. 評価: エンジニアは、製品の回復力と信頼性を評価するために、亀裂、断線、性能劣化などの故障を監視します
技術仕様
モデル JQESS-100 JQESS-150 JQESS-225 JQESS-408 JQESS-800 JQESS-1000 JQESS-1200 JQESS-1500
内寸(cm) 50*40*50 50*50*60 60*50*75 80*60*85 100*80*100 100*100*100 120*100*100 150*100*100
外寸(cm) 70*100*156 70*125*147 80*129*168 80*140*180 120*155*195 120*175*195 140*175*195 170*175*195
容量(L) 100L 150L 225L 408L 800L 1000L 1200L 1500L
電力(KW) 20 25 32 36 40 40 48 52
構造と制御機能
外装材: 静電塗装を施した焼付電解板
内装材: ステンレス鋼(SUS304)
断熱材: 硬質ポリウレタンフォーム
制御方法: PWM冷端制御技術
温度範囲: モデルSタイプ:-70℃~+150℃、モデルLタイプ:-40℃~+150℃またはカスタマイズ
湿度範囲: 20%~98% RH
線形温度変化範囲: -40℃~±85℃
温度変化率: 5℃/分、10℃/分、15℃/分、20℃/分、25℃/分またはカスタマイズ可能
冷凍システム: カスケード冷凍システム
冷却モデル: 空冷/水冷
温度センサー: PT-100白金抵抗
コントローラー: 中国語、英語、ロシア語をサポートするTW DELTA PLCタッチスクリーン制御
安全装置: コンプレッサーの過圧、過負荷、過電流保護、過温保護、過電圧クーラント保護
構成インターフェース: USB、WLAN、RS232ポート、オプションのAPP機能
電源: AC 220VまたはAC 110VまたはAC380V 50Hz
試験方法の比較
熱衝撃試験と急速熱サイクル試験における試験片の温度変化の違い
環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空宇宙部品用 MIL-STD-810 0
環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空宇宙部品用 MIL-STD-810 1
環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空宇宙部品用 MIL-STD-810 2
環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空宇宙部品用 MIL-STD-810 3

製品のハイライト

環境ストレススクリーニング試験チャンバー 航空部品用急速温度変化試験チャンバー MIL-STD-810 製品概要 急速温度変化試験は、熱衝撃試験の故障再現性を向上させるために設計された特殊な熱サイクル方法です。電子デバイスや回路基板が信頼性の課題に直面する中、この試験方法は、高度な半導体集積による高い動作温度、BGAやCSPなどの進化するデバイス実装技術、および鉛フリーはんだへの移行など、重要な問題に対処します。 急速温度変化試験と熱衝撃試験の主な違いは、1分あたり15℃以下の制御された温度変化率です。この精度により、非常に再現性の高い試験結果が得られ、JEDEC(JESD 22-A104F)...

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